수년간의 지속적인 노력 끝에 우리는 분야에서 좋은 명성을 얻었습니다. 기업 책임을 충족하기위한 실패 분석, failure analysis for fulfilling corporate responsibilities, failure analysis for improving efficiency, 이해관계자 참여를 위한 실패 분석 . 항상 그렇듯이, 우리는 성숙한 경험을 사용하여 더 많은 고객에게 더 나은 제품과 서비스를 제공 할 것입니다. 우리는 높은 부가가치를 개발함으로써 끊임없이 경쟁력을 향상시키고 있습니다.지속적인 개선을 위한 실패 분석 생산 프로세스를 최적화하여 많은 업계 벤치 마크가되었습니다. 상품의 구경을 보장하기 위해 엄격한 품질 관리 시스템이 만들어졌습니다. 해외 시장에서 경쟁 우위를 확보하기 위해 우리 회사는 지속적으로 혁신을 강화하고 있습니다. 새로운 상황에 직면하여 우리 회사는 타임즈와 보조를 맞추고 직원의 건설을 강화하며 과학 및 기술 혁신을 활발하게 개발합니다. 글로벌 경쟁력을 가진 세계적 수준의 기업은 끊임없이 노력하고 있습니다. "5G+Industrial Internet"사고를 바탕으로 우리 회사는 산업 지능형 제조 관리 플랫폼을 채택하고 생태 체인 및 공급망에 연결합니다. 그것은 중국 최초의 산업 인터넷 벤치마킹 공장이 될 것이며, 생산 및 제조의 표준화, 자동화, 정보화 및 디지털화를 실현할 것입니다. 실행은 직원을 생존하고 개발하는 유일한 방법입니다. 따라서 우리 회사는 실행을 개선하기 위해 강조하고 있습니다. 신뢰할 수있는 공급 업체로서 우리는 경쟁력있는 가격과 우수한 서비스를 제공합니다.
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자동차용 AEC-Q 인증 테스트AEC-Q는 자동차 레벨 전자 부품에 대한 세계에서 인정된 테스트 사양으로, 자동차 부품의 품질과 신뢰성의 상징이 되었습니다. 자동차에 대한 AEC-Q 인증 테스트는 제품 경쟁력을 향상시키고 공급망에 빠르게 진입하는 데 중요한 역할을 합니다.자세히 보기
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모아레 기판 변형 테스트샘플 표면의 빛 회절을 분석하는 고정밀-모아레- 기반 기판 변형 측정 시스템입니다. 안정적인 열 순환 제어 시스템을 통해 미크론{3}} 수준의 변형 측정을 제공합니다. 칩, 정밀 부품 및 마이크로 전자 패키징 신뢰성 평가를 위해 특별히 제작되었습니다.자세히 보기
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AFM(원자력 현미경) 분석Bruker Dimension ICON6 원자력 현미경은 접촉식, 태핑, 최대 힘 태핑을 포함한 12가지 모드를 지원하여 다양한 샘플의 테스트 요구 사항을 충족하고 반도체 웨이퍼 팹, FAB 및 패키징 공장에 대한 다양한 테스트 방법을 제공합니다.자세히 보기
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FT(최종 테스트) 양산 테스트GRGTEST는 원스톱 FT 소프트웨어 및 하드웨어 솔루션을 보유하고 있으며 테스트 기술 평가, 테스트 솔루션 개발, 테스트 하드웨어 개발, 프로그램 개발 및 디버깅, 엔지니어링 테스트, 대량 생산 테스트를 포함한 광범위한 서비스를 고객에게 제공할 수 있습니다.자세히 보기
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칩-레벨 ESD 테스트칩-레벨 ESD(정전기 방전) 테스트는 제조, 포장, 운송 또는 사용 중에 정전기 방전 간섭에 저항하는 칩의 능력을 평가하는 데 사용되는 집적 회로(IC)에 대한 신뢰성 테스트입니다. GRGTEST는 성숙한 기술 팀과 업계 전문가를 보유하여 효율적인 ESD 테스트 서비스를 제공합니다.자세히 보기
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반도체 칩의 고장 분석GRGT는 비파괴 분석, 전기적 특성/전기적 위치 분석, 파괴 분석, 미시적 분석 및 반도체 칩의 불량 분석을 제공할 수 있는 전문가와 첨단 불량 분석 장비로 구성된 선도적인 팀을 보유하고 있습니다.자세히 보기
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재료 일관성 평가 및 열역학플라스틱은 기본 수지와 다양한 첨가제로 구성된 배합 시스템이기 때문에 원자재와 공정을 제어하기 어렵고, 이로 인해 실제 생산 및 제품 사용 과정에서 제품 품질이 서로 다른 배치가 생기거나 설계가 완료될 때 사용된 재료가 합격한 재료와 다른 경우가 많습니다. 공급업체가 배합이 변경되지 않았다고 말하더라도 제품의 생산 및 사용 과정에서 제품이 파손되는 등의자세히 보기
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AEC-Q 104 인증 테스트GRGT는 AEC-Q 104 인증 시험 및 인증 서비스의 전체 세트를 제공합니다. 다양한 테스트 및 분석 기술과 프로그램을 사용하여 제품의 고장 현상을 확인하고, 고장 모드 또는 메커니즘을 구별하고, 궁극적인 원인을 파악하고, 설계 및 제조 공정을 개선하기 위한 제안을 제시하고, 고장을 제거하고 재발을 방지하고, 제품 신뢰성을 개선합니다.자세히 보기
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AEC-Q100 인증 테스트GRGT 고장분석연구소의 AEC-Q 기술팀은 수많은 AEC-Q 시험 사례를 실행하고 인증 시험에 대한 풍부한 경험을 축적하였으며, 이를 통해 고객님께 보다 전문적이고 신뢰할 수 있는 AEC-Q100 인증 시험 서비스를 제공할 수 있습니다.자세히 보기
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AEC-Q200 저항-용량 인덕턴스 및 기타 구성 요소의 제품 테스트AEC-200 시험 규격은 자동차의 각 구성 요소 환경에서 수동 구성 요소의 작동 온도 범위를 자세히 지정하고 다양한 구성 요소의 시험 항목을 엄격하게 구분하며 일반적인 시리즈 구성 요소의 시험 적용성에 대한 비교적 완벽한 규정을 만듭니다. GRG Test는 귀하에게 보다 전문적이고 신뢰할 수 있는 AEC-Q200 선택 인증 시험 세트를 제공할 수자세히 보기
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AEC-Q102 광전자소자 제품 시험Ford, Chrysler, General Motors로 구성된 AEC는 광전자 소자에 대한 신뢰성 표준 AEC-Q102를 발행했습니다. 이는 광전자 소자의 신뢰성에 대한 엄격한 테스트 요구 사항을 설정하고 주요 엔진 공장에 광전자 소자에 높은 신뢰성과 긴 서비스 수명을 제공합니다. GRG Test의 AEC-Q 기술 팀은 많은 수의 AEC-Q 테스트를자세히 보기
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반도체 이산소자를 위한 AEC-Q101 인증 시험AEC-Q101은 다양한 반도체 이산 소자에 대한 차량 신뢰성 요구 사항을 정리했습니다. AEC-Q101 테스트는 전 세계적으로 구성 요소의 신뢰성에 사용할 수 있는 보고서일 뿐만 아니라 온보드 공급망으로 가는 디딤돌이기도 합니다. SiC 3세대 반도체 소자의 AEC-Q 인증에 대한 풍부한 실무 경험을 바탕으로 GRG Test는 pr을 제공할 수 있는자세히 보기
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