우리 모두 피로 강도 테스트, 화학 물질의 환경 화학 분해 테스트, EMC 테스트 브랜딩 잘 설계된 장인 정신과 안정적인 성능으로 프리미엄 표준에 도달했습니다. 우리는 제품 품질을 엄격하게 제어합니다비용 통제에 대한 실패 분석 해외에서 잘 팔아. 브랜드는 엄청난 양의 광고 투자로 쉽게 얻을 수있는 것이 아닙니다. 우리는 시장의 과학적 개념을 포괄적으로 구현하여 시장 제어와 브랜드 가치의 향상을 만듭니다. 우리의 세심한 작업 태도는 모든 생계, 전문가 및 학자들에게 칭찬을 받았습니다. 우리의 비즈니스 전략은 협력 개발, 전문화 된 생산 및 표준화 된 운영에 전념하고 있습니다. 우리는 설립 이후 항상 정직한 관리의 원칙을 준수 했으므로 우리는 국내외의 많은 동료들과 고객들에 의해 인정되었습니다. 우리는 제품 설계, 제조 및 물류를 포함한 다양한 서비스를 제공합니다.
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AEC-Q200 저항-용량 인덕턴스 및 기타 구성 요소의 제품 테스트AEC-200 시험 규격은 자동차의 각 구성 요소 환경에서 수동 구성 요소의 작동 온도 범위를 자세히 지정하고 다양한 구성 요소의 시험 항목을 엄격하게 구분하며 일반적인 시리즈 구성 요소의 시험 적용성에 대한 비교적 완벽한 규정을 만듭니다. GRG Test는 귀하에게 보다 전문적이고 신뢰할 수 있는 AEC-Q200 선택 인증 시험 세트를 제공할 수자세히 보기 -
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모아레 기판 변형 테스트샘플 표면의 빛 회절을 분석하는 고정밀-모아레- 기반 기판 변형 측정 시스템입니다. 안정적인 열 순환 제어 시스템을 통해 미크론{3}} 수준의 변형 측정을 제공합니다. 칩, 정밀 부품 및 마이크로 전자 패키징 신뢰성 평가를 위해 특별히 제작되었습니다.자세히 보기 -
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PFIB(플라즈마 집속 이온빔)Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching자세히 보기 -
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표면 절연 저항(SIR) 테스트표면 절연 저항(SIR) 테스트는 금속 도체 사이의 단락이나 전류 누설로 인해 발생하는 문제를 평가하는 데 사용할 수 있으며, 전자 부품의 전기적 특성에 영향을 줄 수 있는 솔더 페이스트의 플럭스나 기타 화학 물질이 PCB 표면에 남아 있는지 확인하는 데 도움이 됩니다.. 표면 절연 저항(SIR) 테스트 데이터는 PCB의 청결도를 직접적으로 반영할 수자세히 보기 -
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반도체 칩의 고장 분석GRGT는 비파괴 분석, 전기적 특성/전기적 위치 분석, 파괴 분석, 미시적 분석 및 반도체 칩의 불량 분석을 제공할 수 있는 전문가와 첨단 불량 분석 장비로 구성된 선도적인 팀을 보유하고 있습니다.자세히 보기 -
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IGBT 및 반도체 테스트GRGT는 300개가 넘는 최첨단 검출 및 분석 장비를 투자하고, 의사와 전문가를 핵심으로 인재 팀을 구성하며, 장비 제조, 자동차, 전력 전자 및 신에너지, 5G 통신, 광전자 소자 등을 위한 6개의 전문 실험실을 설립했습니다. 센서, 철도 운송 및 재료 분야의 기업들은 전문적인 고장 분석, 구성 요소 선별, 신뢰성 테스트, 공정 품질 평가, 제품자세히 보기 -
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AEC-Q100 인증 테스트GRGT 고장분석연구소의 AEC-Q 기술팀은 수많은 AEC-Q 시험 사례를 실행하고 인증 시험에 대한 풍부한 경험을 축적하였으며, 이를 통해 고객님께 보다 전문적이고 신뢰할 수 있는 AEC-Q100 인증 시험 서비스를 제공할 수 있습니다.자세히 보기 -
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제니스 로야
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