제품 설명
부품 제조업체에서 실시하는 일회성 선별 프로젝트와 스트레스 조건으로는 장비 개발 요구를 충족시키기 어렵습니다. 게다가 수입 부품에는 산업용 또는 중·저품질 제품이 포함되는 경우가 많고, 심지어는 가짜나 열악한 기준에 미달하는 제품도 포함되어 있는 경우가 많아 전자 장비의 품질과 신뢰성을 보장하기 어렵습니다.
테스트 사이클
2-4주 동안 전자 부품에 대한 포괄적인 선별 및 테스트 서비스가 제공되며 긴급 서비스도 가능합니다.
제품 범위
저항기; 커패시터; 자기 비드; 인덕터; 변압기; 수정 발진기; 수정 공진기; 릴레이; 반도체 이산 소자(다이오드, 트라이오드, FET, 다링턴 어레이, 반도체 광전자 소자 등); 전기 커넥터; 스위치 및 패널 소자; 반도체 집적 회로(타임 베이스 회로, 버스 트랜시버, 버퍼, 드라이버, 레벨 변환기, 게이트 소자, 트리거, LVDS 라인 트랜시버, 연산 증폭기, 전압 조정기, 전압 비교기, 전원 칩(전압 조정기, 스위칭 전원 변환기, 전원 모니터, 전원 관리 등), 디지털-아날로그 변환기(A/D, D/A, SRD), 메모리, 프로그래머블 논리 소자, 단일 칩 마이크로컴퓨터, 마이크로프로세서, 컨트롤러 등); 필터; 전원 모듈; IGBT 등
테스트 항목
| S/N | 테스트 항목 | 샘플 수량 | 시험 방법 |
| 1 | 육안 검사 | 고객의 요청에 따라 | GJB128, GJB548 등 |
| 2 |
전기 성능 테스트: 상온테스트/고온테스트/저온테스트 |
고객의 요청에 따라 | GB 또는 GJB 테스트 방법 GJB33, GJB63, GJB65, GJB1042, GJB1432, GJB1648, GJB2438, GJB2138, GJB597, …… |
| 3 |
환경/기계적 스트레스 테스트: 주파수 스윕/무작위 진동, 저온 보관, 고온 보관, 온도 사이클, 온도 충격, 일정 가속 또는 강하, 밀봉(거친 누출 감지, 미세 누출 감지), PIND |
고객의 요청에 따라 | GJB360,GJB128,GJB548, GJB33, GJB63, GJB65, GJB1042, GJB1432, GJB1648, GJB2438, GJB2138, GJB597, …… |
| 4 | 수명/노화/번인 | 고객의 요청에 따라 | GJB360,GJB128,GJB548 |
| 5 | 칩 본딩의 초음파 검사 | 고객의 요청에 따라 | GJB548 |
| 6 | 엑스선 방사선 촬영 | 고객의 요청에 따라 | GJB360,GJB128,GJB548 |
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