설명
기술적인 매개 변수
서비스 내용
서비스 범위
집적 회로(IC), 개별 반도체 장치, 광학 장치, MEMS 장치, MCM 모듈, 저항기, 커패시터, 인덕터 및 수정 발진기를 포함한 수동 전자 부품.
테스트 표준
AEC-Q100: 다양한 유형의 집적 회로 칩에 적합
AEC-Q101: BJT(양극 접합 트랜지스터), MOSFET, IGBT, 다이오드, 정류기, 제너, PIN 및 기타 동등한 장치에 적합합니다.
AEC-Q102: LED, 광커플러, 포토다이오드와 같은 광학 부품에 적합
AEC-Q103: 압력 센서 및 마이크와 같은 MEMS 장치에 적합
AEC-Q104: 다양한 멀티{2}}칩 모듈(MCM)에 적합
AEC-Q200: 커패시터, 저항기, 인덕터, 변압기, RC 네트워크 및 퓨즈와 같은 다양한 구성 요소에 적합합니다.
테스트 항목
자격
전국 40개 이상의 자동차 제조사가 인정한 제품입니다.
테스트 주기
3개월~6개월
서비스 배경
자동차{0}}등급 전자 부품에 대한 국제적으로 인정받는 테스트 표준인 AEC{1}}Q는 자동차 부품의 품질과 신뢰성에 대한 벤치마크 역할을 합니다. 전자 부품에 대한 AEC{3}}Q 인증 테스트는 제품 경쟁력을 강화하고 자동차 공급망으로의 신속한 통합을 촉진하는 데 중요한 역할을 합니다.
우리의 강점
GRGTEST는 현재 AEC-Q 인증 서비스를 제공하는 선도적인 기관 중 하나로 광범위한 프로젝트 경험을 자랑합니다.
인기 탭: 자동차용 반도체 시험인증, 중국 자동차용 반도체 시험인증 서비스 제공업체
